<table id="cyacc"></table>
  • 撥號13902260574

    你的位置:首頁 > 產品展示 > 膜厚儀 > 白光干涉測厚儀 >貝拓科學在線測厚儀TF200-VIS

    產品詳細頁
    貝拓科學在線測厚儀TF200-VIS

    貝拓科學在線測厚儀TF200-VIS

    • 產品介紹:貝拓科學在線測厚儀TF200-VIS探頭同位接收反射光線。TF200根據反射回來的干涉光,用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm,可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜,還可以測量n和k值。
    • 產品型號:
    • 更新時間:2024-03-06
    • 廠商性質:生產廠家
    • 產品品牌:
    • 產品廠地:廣州市
    • 訪問次數:1161
    • 在線留言 020-34498462

    產品介紹

    品牌貝拓科學價格區間面議
    產地類別國產應用領域化工,能源,印刷包裝,紡織皮革,汽車

    貝拓科學在線測厚儀TF200-VIS

    儀器介紹  

    TF200薄膜厚度測量系統利用薄膜干涉光學原理,對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。TF200根據反射回來的干涉光,用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm,可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜,還可以測量n和k值。


    貝拓科學在線測厚儀TF200-VIS

    產品特點

    快速、準確、無損、靈活、易用、性價比高



    應用領域

    半導體(SiO2/SiNx、光刻膠、MEMS,SOI等)

    LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亞酰胺ITO等)

    LED (SiO2、光刻膠ITO等)

    觸摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率測試等)

    汽車(防霧層、Hard Coating DLC等)


    技術參數

    型號

    TF200-VIS

    TF200-EXR

    TF200-DUV

    TF200-XNIR

    波長范圍

    380-1050nm

    380-1700nm

    190-1100nm

    900-1700nm

    厚度范圍

    50nm-40um

    50nm-300um

    1nm-30um

    10um-3mm

    準確度1

    2nm

    2nm

    1nm

    10nm

    精度

    0.2nm

    0.2nm

    0.2nm

    3nm

    入射角

    90℃

    90℃

    90℃

    90℃

    樣品材料

    透明或半透明

    透明或半透明

    透明或半透明

    透明或半透明

    測量模式

    反射/透射

    反射/透射

    反射/透射

    反射/透射

    光斑尺寸2

    2mm

    2mm

    2mm

    2mm

    是否能在線

    掃描選擇

    XY可選

    XY可選

    XY可選

    XY可選

    注:1.取決于材料0.4%或2nm之間取較大者。

          2.可選微光斑附件。



    留言框

    • 產品:

    • 您的單位:

    • 您的姓名:

    • 聯系電話:

    • 常用郵箱:

    • 省份:

    • 詳細地址:

    • 補充說明:

    • 驗證碼:

      請輸入計算結果(填寫阿拉伯數字),如:三加四=7

    聯系我們

    地址:廣州市海珠區侖頭路78號粵科海納檢測技術裝備園A4棟202室 傳真:86-020-84213246 Email:yunli.xu@betops.com.cn
    24小時在線客服,為您服務!

    版權所有 © 2024 廣州貝拓科學技術有限公司 備案號:粵ICP備16117500號 技術支持:化工儀器網 管理登陸 GoogleSitemap

    在線咨詢
    QQ客服
    QQ:3287208580
    電話咨詢
    020-34498462
    關注微信
    色播亚洲精品网站亚洲第一_亚洲 丝袜 制服 欧美 另类_青青草97国产精品免费观看_国产精品美女乱子伦高潮
    <table id="cyacc"></table>