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    產品詳細頁
    全自動三離子束拋光切割儀 EM TIC 3X

    全自動三離子束拋光切割儀 EM TIC 3X

    • 產品介紹:全自動三離子束拋光切割儀 EM TIC 3X在沒有任何變形或損傷的情況下揭開樣品內部真實結構信息,在使用徠卡EM TIC3X之前,這類工作從未變得如此之簡單。
    • 產品型號:
    • 更新時間:2024-03-06
    • 廠商性質:生產廠家
    • 產品品牌:
    • 產品廠地:廣州市
    • 訪問次數:2692
    • 在線留言 020-34498462

    產品介紹

    品牌其他品牌價格區間面議
    儀器種類金相切割機產地類別國產

    全自動三離子束拋光切割儀 EM TIC 3X

    幾乎任何材質樣品都可獲得高質量截面,在沒有任何變形或損傷的情況下揭開樣品內部最真實結構信息,在使用徠卡EM TIC3X之前,這類工作從未變得如此之簡單。

    徠卡EM TIC 3X三離子束切割儀適宜處理軟/硬復合、帶有孔縫結構、熱敏感性、脆性及非均質樣品,獲得樣品截面,從而進行掃描電子顯微鏡(SEM),微區分析(EDS,WDS,Auger,EBSD)及原子力顯微鏡或掃描探針顯微鏡(AFM,SPM)檢測。

    三離子束(分別獨立控制),冷凍樣品臺及多樣品臺,確保離子束對樣品處理高效,切割區域寬且深,從而獲得高質量截面切割結果。

    全自動三離子束拋光切割儀 EM TIC 3X
     

    為您帶來的優勢

     

      

    性能

    *的三離子束系統,可獲得佳的截面處理質量,并可高效獲得寬且深的切割區域,大大降低工作時間。并可實現在一次處理過程中最多處理3個樣品。因此對有高通量需求的實驗室,徠卡EM TIC 3X是佳解決方案。

    樣品托

    多種多樣的樣品托,適合于各類尺寸樣品。

      

    可裝配系統

    根據您的樣品制備需要,可以有針對性地在徠卡EM TIC 3X上裝配一體化設計樣品臺-標準樣品臺,多樣品臺或冷凍樣品臺。

    樣品TOPO結構清晰可見

    除了剖面切割,使用同一樣品托還可對樣品進行清潔及增強襯度的功能。

      

    冷凍樣品臺

    針對溫度敏感型樣品如橡膠或水溶性高分子聚合纖維等,可以使用冷凍樣品臺對樣品進行低溫下處理,獲得高質量處理結果。樣品托和擋板的溫度都可達到-150° C。

     

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