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    FEG系列” 場發射環境掃描電子顯微鏡

    FEG系列” 場發射環境掃描電子顯微鏡

    • 產品介紹:FEG系列" 場發射環境掃描電子顯微鏡Quanta FEG系列場發射環境掃描電子顯微鏡是FEI公司的新產品之一。是在FEI公司著名產品XL30 ESEM-FEG場發射環境掃描電子顯微鏡的基礎上發展而來的。
    • 產品型號:
    • 更新時間:2024-03-06
    • 廠商性質:生產廠家
    • 產品品牌:威泰克
    • 產品廠地:廣州市
    • 訪問次數:3433
    • 在線留言 020-34498462

    產品介紹

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    FEG系列” 場發射環境掃描電子顯微鏡

    儀器簡介:

    Quanta FEG系列場發射環境掃描電子顯微鏡是FEI公司的新產品之一。是在FEI公司著名產品XL30 ESEM-FEG場發射環境掃描電子顯微鏡的基礎上發展而來的。
    Quanta FEG場發射環境掃描電子顯微鏡綜合場發射電鏡高分辨和ESEM環境掃描電鏡適合樣品多樣性的優勢,可對各種各樣的樣品(包括導電樣品、不導電樣品、含水含油樣品、加熱樣品等等)進行高分辨的靜態和動態觀察和分析。
    Quanta FEG和Quanta一樣具有優異的系統擴展性能,可同時安裝能譜儀、波譜儀、EBSP、陰極熒光等附件。

    FEG系列” 場發射環境掃描電子顯微鏡

    主要特點:

    1.*數字化系統控制,Windows XP操作系統
    2.場發射環境掃描系統兼顧高分辨和樣品多樣性
    3.數字電影功能可將觀察過程記錄為avi視頻文件
    4.穩定的大束流(最大200nA)確保高速、準確的能譜、波譜和EBSD分析
    5.可安裝冷臺、加熱臺、拉伸臺等進行樣品原位、動態觀察和分析

     

    技術參數:

    1.分辨率:
     二次電子:
      高真空模式 1.0nm @ 30kV; 3.0nm @ 1kV
      高真空減速模式 2.3nm @ 1kV, 3.1nm @ 200V (可選項)
      低真空模式 1.4nm @ 30kV; 3.0nm @ 3kV
      環境真空模式 1.4nm @ 30kV
     背散射電子:
      高真空和低真空模式: 2.5nm @ 30kV
     掃描透射STEM探測器:
      0.8nm @ 30kV
    2.加速電壓 200V ~ 30kV, 連續可調
    3.高穩定性Schottky場發射電子槍
    4.最大束流 200nA
    5.樣品室壓力最高達4000Pa
    6.樣品臺移動范圍
     Quanta 250 FEG: X=Y=50mm
     Quanta 450 FEG: X=Y=100mm
     Quanta 650 FEG: X=Y=150mm

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